|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of triple phase contact in Ni–YSZ microstructures using non-destructive X-ray tomography with synchrotron radiation |
| Auteur: |
Shearing, P.R. Gelb, J. Yi, J. Lee, W.-K. Drakopolous, M. Brandon, N.P. |
| Verschenen in: |
Electrochemistry communications |
| Paginering: | Jaargang 12 (2010) nr. 8 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |