|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Secondary ion mass spectrometry (SIMS) with Bi3 + primary ions as a sensitive probe of surface structures of heterogeneous catalysts |
| Auteur: |
Park, Chan Heum Kim, Il Hee Choi, Chang Min Jin, Jong Sung Choi, Myoung Choul Kim, Young Dok |
| Verschenen in: |
International journal of mass spectrometry |
| Paginering: | Jaargang 433 () nr. C pagina's 47-54 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 13 gevonden artikelen
| << vorige |