|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Ion mass interferences and matrix effects on SIMS depth profiling of thin Ti/Si multilayer films induced by hydrogen, carbon and oxygen contaminations |
| Auteur: |
Cwil, M. Konarski, P. Ciosek, J. |
| Verschenen in: |
International journal of mass spectrometry |
| Paginering: | Jaargang 263 (2007) nr. 1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |