|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of the UTB-InAs-MOSFETs structure |
| Auteur: |
Ammi, Sofiane Aissat, Abdelkader Wichmann, Nicolas Bollaert, Sylvain |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 96 (2019) nr. C pagina's 41-45 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |