|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 60 gevonden artikelen
| Titel: |
Critical impact of gate dielectric interfaces on the trap states and cumulative charge of high-performance organic thin field transistors |
| Auteur: |
Lin, Hui Zhao, Wenqiang Kong, Xiao Li, Lijuan Li, Yimeng Kuang, Peng Zhang, Yi Zhang, Landan Sun, Ming Tao, Silu |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 91 (2019) nr. C pagina's 275-280 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 60 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |