|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 41 van 60 gevonden artikelen
| Titel: |
Representative volume element analysis for wafer-level warpage using Finite Element methods |
| Auteur: |
Baek, Jong Won Yang, Woo Seok Hur, Min Jae Yun, Jin Chul Park, Seong Jin |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 91 (2019) nr. C pagina's 392-398 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 41 van 60 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |