|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
Low-temperature conductance measurements of surface states in HfO2–Si structures with different gate materials |
| Auteur: |
Gomeniuk, Y. Nazarov, A. Vovk, Ya. Lu, Yi Buiu, O. Hall, S. Efavi, J.K. Lemme, M.C. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 9 (2006) nr. 6 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |