|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 81 gevonden artikelen
| Titel: |
Electron-beam-induced current imaging for the characterisation of structural defects in Si1− x Ge x films grown by LE-PECVD |
| Auteur: |
Virtuani, A. Marchionna, S. Acciarri, M. Isella, G. von Kaenel, H. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 9 (2006) nr. 4-5 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 81 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |