|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of hydrogen annealing temperature on the resistive switching characteristics of HfOx thin films |
| Auteur: |
Jung, Yong Chan Seong, Sejong Lee, Taehoon Kim, Seon Yong Park, In-Sung Ahn, Jinho |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 88 () nr. C pagina's 207-213 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |