|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
An X-ray photoelectron spectroscopy depth profile study on the InGeNi/(110) cleaved GaAs structure |
| Auteur: |
Negrila, Constantin Catalin Lazarescu, Mihail Florin Logofatu, Constantin Ghita, Rodica V. Cotirlan, Costel |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 82 () nr. C pagina's 62-66 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 19 gevonden artikelen
| volgende >> |