|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Topographic characterization of thin film field-effect transistors of 2,6-diphenyl anthracene (DPA) by fractal and AFM analysis |
| Auteur: |
Ţălu, Ştefan Bramowicz, Miroslaw Kulesza, Slawomir Solaymani, Shahram |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 79 (2018) nr. C pagina's 144-152 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 25 gevonden artikelen
| << vorige |