|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Simultaneous DualEELS and EDS analysis across the ohmic contact region in 3D NAND storage and FinFET electronic devices |
| Auteur: |
Longo, P. Zhang, H. Twesten, R.D. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 65 (2017) nr. C pagina's 44-48 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |