|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
Crystalline damage in silicon wafers and 'rare event' failure introduced by low-energy mechanical impact |
| Auteur: |
Atrash, F. Meshi, I. Krokhmal, A. Ryan, P. Wormington, M. Sherman, D. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 63 (2017) nr. C pagina's 40-44 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |