|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Efficient defect identification of soft failures induced by device local mismatch for nano-scale SRAM yield improvement |
| Auteur: |
Kuo, Chinte Wei, Wen Cai, Martin Chen, Leon Wang, Yong Zhang, David Wei |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 60 (2017) nr. C pagina's 79-87 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |