|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Analytical modeling of subthreshold characteristics of ion-implanted symmetric double gate junctionless field effect transistors |
| Auteur: |
Singh, Balraj Gola, Deepti Singh, Kunal Goel, Ekta Kumar, Sanjay Jit, Satyabrata |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 58 (2017) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 13 gevonden artikelen
| volgende >> |