|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical characterization of defects introduced during electron beam deposition of W Schottky contacts on n-type 4H-SiC |
| Auteur: |
Omotoso, E. Meyer, W.E. Coelho, S.M.M. Diale, M. Ngoepe, P.N.M. Auret, F.D. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 51 (2016) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |