|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Structural and electrical characterization of CoNiO monolayer as copper diffusion barrier in integrated circuits |
| Auteur: |
Sharma, S. Kumar, M. Rani, S. Kumar, D. Tripathi, C.C. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 48 (2016) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |