|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 67 van 135 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of characteristics of ZnO:Ga nanocrystalline thin films with varying dopant content |
| Auteur: |
Yilmaz, Mehmet |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 40 () nr. C pagina's 99-106 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 67 van 135 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |