|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 135 van 135 gevonden artikelen
| Titel: |
XPS and TEM study of deposited and Ru–Si solid state reaction grown ruthenium silicides on silicon |
| Auteur: |
Jelenković, Emil V. To, S. Blackford, M.G. Kutsay, O. Jha, Shrawan K. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 40 () nr. C pagina's 817-821 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 135 van 135 gevonden artikelen
| << vorige |