|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 35 van 78 gevonden artikelen
| Titel: |
Improvement of oxide thickness determination on MOS structures using capacitance–voltage measurements at high frequencies |
| Auteur: |
Soliman, L. Duval, E. Benzohra, M. Lheurette, E. Ketata, K. Ketata, M. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 4 (2001) nr. 1-3 pagina's 163-166 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 35 van 78 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |