|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 29 van 78 gevonden artikelen
| Titel: |
Gate oxide integrity dependence on substrate characteristics and SiO2 thickness |
| Auteur: |
Bonoli, F. Godio, P. Borionetti, G. Falster, R. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 4 (2001) nr. 1-3 pagina's 145-148 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 29 van 78 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |