|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 78 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect analysis of n-type silicon strained layers |
| Auteur: |
Simoen, E. Loo, R. Roussel, P. Caymax, M. Bender, H. Claeys, C. Herzog, H.-J. Blondeel, A. Clauws, P. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 4 (2001) nr. 1-3 pagina's 225-227 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 78 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |