|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 83 van 112 gevonden artikelen
| Titel: |
Prediction of interfacial adhesion strength of nanoscale Al/TiN films passed through patterned BEOL interconnects |
| Auteur: |
Lee, Chang-Chun Shen, Yu-Lin Kang, Yuan |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 39 (2015) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 83 van 112 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |