|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 46 van 96 gevonden artikelen
| Titel: |
Improved bias stress stability of In–Ga–Zn–O thin film transistors by UV–ozone treatments of channel/dielectric interfaces |
| Auteur: |
Lee, Min-Jung Lee, Tae Il Cho, Joong-Hwee Lee, Woong Myoung, Jae-Min |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 30 (2015) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 46 van 96 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |