|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
A comprehensive statistical study of the post-programming conductance drift in HfO2-based memristive devices |
| Auteur: |
Maldonado, D. Acal, C. Ortiz, H. Aguilera, A.M. Ruiz-Castro, J.E. Cantudo, A. Baroni, A. Dorai Swamy Reddy, K. Pechmann, S. Uhlmann, M. Wenger, C. Pérez, E. Roldán, J.B. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 196 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 30 gevonden artikelen
| volgende >> |