|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 36 van 42 gevonden artikelen
| Titel: |
Systematic analysis of the trapping and reliability of Al2O3/GaN MOS capacitors with different atomic layer deposition techniques |
| Auteur: |
Fregolent, Manuel Tomasi, Marco De Santi, Carlo Buffolo, Matteo Tadmor, Liad Brusaterra, Enrico Treidel, Eldad Bahat Cester, Andrea Meneghesso, Gaudenzio Zanoni, Enrico Meneghini, Matteo |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 195 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 36 van 42 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |