|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 60 gevonden artikelen
| Titel: |
Enhancing device reliability in Pt/Ti/Al2O3/p-Ge metal-oxide-semiconductor memcapacitor via CF4 plasma treatment of Ge |
| Auteur: |
Cho, Eunjeong Kim, Min Jeong Oh, Seyoung Park, Woojin Yoon, Jongwon Cho, Byungjin |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 194 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 60 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |