|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Interface trap density in ITO/Si Schottky junction photodetectors |
| Auteur: |
Li, Yaming Liu, Dianbo Liu, Ruixi Cui, Yunxiao Liu, Yunfei Ma, Ziyi Liu, Yuewen Wang, Jiaxuan Li, Ziqian Dong, Yusen Li, Jiaxin Du, Chenxi Liao, Guihua Li, Chong |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 193 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |