|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 70 gevonden artikelen
| Titel: |
Comparative analysis on negative-bias-illumination-stress instabilities between planar- and vertical-channel thin-film transistors using InGaZnO active channels prepared by atomic-layer deposition |
| Auteur: |
Kang, Ji-Won Lee, Dong-Hee Kwon, Young-Ha Seong, Nak-Jin Choi, Kyu-Jeong Hwang, Chi-Sun Yoon, Sung-Min |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 181 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 70 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |