|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 57 gevonden artikelen
| Titel: |
Confirmation of the presence of edge dislocations in the prepared FCC ZnTe nanocrystals from the study of structural analysis through the MWH method with added Fourier analysis (W-A method) of diffraction peaks |
| Auteur: |
Basak, Sanghita Das, Ratan |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 179 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 57 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |