|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 54 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of barrier inhomogeneities in Ti/p–type strained Si0.95Ge0.05 Schottky diodes using reverse current-voltage characteristics |
| Auteur: |
Mamor, Mohammed Bouziane, Khalid Chakir, Hind Ruterana, Pierre |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 176 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 54 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |