|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
A failure mechanism and improved method for abnormal IDS leakage current of shield gate trench MOSFET |
| Auteur: |
Luo, Jiayu Li, Zhaofeng Zhang, Jiandong |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 166 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 48 gevonden artikelen
| volgende >> |