Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 44 gevonden artikelen
 
 
  An approach for extracting the SiC/SiO2 SiC MOSFET interface trap distribution and study during short circuit
 
 
Titel: An approach for extracting the SiC/SiO2 SiC MOSFET interface trap distribution and study during short circuit
Auteur: Wu, Lijuan
Liang, Jiahui
Zhang, Mengyuan
Liu, Mengjiao
Zhang, Tengfei
Yang, Gang
Song, Xuanting
Verschenen in: Materials science in semiconductor processing
Paginering: Jaargang 163 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2023
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 44 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland