|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of film stress on different electrical properties of PECVD grown SiNx films and its bilayer structures: A study of Si surface passivation strategy |
| Auteur: |
Chavan, Vijay D. Kim, Honggyun Aziz, Jamal Choi, Kyeong-Keun Kim, Deok-kee |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 161 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |