|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 114 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of n-type Ge layers on Si (100) substrates grown by rapid thermal chemical vapor deposition |
| Auteur: |
Kil, Yeon-Ho Yang, Hyeon Deok Yang, Jong-Han Park, Ah Hyun Kang, Sukill Jeong, Tae Soo Kim, Taek Sung Shim, Kyu-Hwan |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 16 (2013) nr. 6 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 114 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |