|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 61 van 67 gevonden artikelen
| Titel: |
Structural and electrical characterizations of Si-implanted GaN with a high dose at elevated temperatures |
| Auteur: |
Wang, Zheming Zhang, Liguo Ji, Rongkun Kan, Xiang Zhang, Xuan Cai, Yong Zhang, Baoshun |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 150 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 61 van 67 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |