|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 30 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanoindentation characterization of thin film stack structures by finite element analysis and experiments using acoustic emission testing |
| Auteur: |
Liu, Chen Nagler, Oliver Tremmel, Florian Unterreitmeier, Marianne Frick, Jessica J. Gu, X. Wendy Senesky, Debbie G. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 147 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 30 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |