|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
Current-voltage-measurement temperature characteristics depending on the barrier-forming contact metal thickness in Au/Cu/n-Si/Au–Sb/Ni rectifying contacts |
| Auteur: |
Efeoǧlu, Hasan Turut, Abdulmecit |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 143 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 48 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |