|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Defect reduction in SiC epilayers by different substrate cleaning methods |
| Auteur: |
Baierhofer, D. Thomas, B. Staiger, F. Marchetti, B. Förster, C. Erlbacher, T. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 140 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |