|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of post-oxidation annealing temperature on ZrO2 thin film deposited on 4H-SiC substrate |
| Auteur: |
Kurniawan, Tedi Wong, Yew Hoong Yew Cheong, Kuan Moon, Jeong Hyun Bahng, Wook Abdul Razak, Khairunisak Lockman, Zainovia Joon Kim, Hyeong Kim, Nam-Kyun |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 14 (2011) nr. 1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |