|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 61 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of the post-stress recovery of reverse leakage current in GaN HEMTs |
| Auteur: |
Mukherjee, Jayjit Chaubey, Rupesh K. Rawal, D.S. Dhaka, R.S. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 137 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 61 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |