|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 52 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical study of ZnO film thickness effect on the evolution of interface potential barrier of ZnO/p-Si heterojunction: Contribution to transport phenomena study |
| Auteur: |
Chabane, L. Zebbar, N. Trari, M. Seba, Y.H. Kechouane, M. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 133 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 52 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |