|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical methods for estimating the correlation length of insulator thickness fluctuations in MIS tunnel structures |
| Auteur: |
Tyaginov, S.E. Vexler, M.I. El Hdiy, A. Gacem, K. Zaporojtchenko, V. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 13 (2010) nr. 5-6 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |