|
Direct correlation of defects and dark currents of InGaAs/InP photodetectors |
|
|
|
Titel: |
Direct correlation of defects and dark currents of InGaAs/InP photodetectors |
Auteur: |
Wang, Hongzhen Gu, Yi Yu, Chunlei Zhu, Shalu Zhu, Yicheng Chen, Pingping Cao, Jiasheng Yang, Bo Li, Tao Shao, Xiumei Li, Xue Gong, Haimei |
Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
Paginering: |
Jaargang 123 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2021 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|