|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Temperature dependent current- and capacitance-voltage characteristics of W/n-Si structures with two-dimensional WS2 and three-dimensional WO3 interfaces deposited by RF sputtering technique |
| Auteur: |
Baltakesmez, A. Tekmen, S. Güzeldir, B. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 118 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |