|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Properties of the structural defects during SiC–crystal–induced crystallization on the solid–liquid interface |
| Auteur: |
Gao, Yue Yan, Wanjun Gao, Tinghong Chen, Qian Yang, Wensheng Xie, Quan Tian, Zean Liang, Yongchao Luo, Jun Li, Lianxin |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 116 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |