|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 53 gevonden artikelen
| Titel: |
Accurate carrier profiling of n-type GaAs junctions |
| Auteur: |
Clarysse, T. Brammertz, G. Vanhaeren, D. Eyben, P. Goossens, J. Clemente, F. Meuris, M. Vandervorst, W. Srnanek, R. Kinder, R. Sciana, B. Radziewicz, D. Li, Zhiqiang |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 11 (2008) nr. 5-6 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 53 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |