|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of electrical, dielectric and thermal performance of NiFe/SiO2/Si MOS device fabricated by liquid phase epitaxy |
| Auteur: |
Ashery, Adel Khabiri, Gomaa Hassan, Abdelwahab Yousef, Moataz M.K. Khalil, Ahmed S.G. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 104 (2019) nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |