Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 17 van 42 gevonden artikelen
 
 
  Investigation on residual scratch depth and material removal rate of scratching machining single crystal silicon with Berkovich indenter
 
 
Titel: Investigation on residual scratch depth and material removal rate of scratching machining single crystal silicon with Berkovich indenter
Auteur: Ge, Mengran
Zhu, Hongtao
Ge, Peiqi
Zhang, Cheng
Verschenen in: Materials science in semiconductor processing
Paginering: Jaargang 100 (2019) nr. C pagina's 98-105
Jaar: 2019
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 17 van 42 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland