|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 141 van 144 gevonden artikelen
| Titel: |
Using a four-probe scanning tunneling microscope to characterize phosphorus doped ohmic contacts for atomic scale devices in silicon |
| Auteur: |
Clarke, W.R. Zhou, X.J. Fuhrer, A. Polley, C. Thompson, D.L. Reusch, T.C.G. Simmons, M.Y. |
| Verschenen in: |
Physica. E, Low-dimensional systems and nanostructures |
| Paginering: | Jaargang 40 (2008) nr. 6 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 141 van 144 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |